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RZ-EC770 涂层测厚仪 F/N 探头测量范围从 0 到 1300um
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重要属性
其他属性
原产地
Guangdong, China
品牌
RZ
型号
RZ-EC 770
范围
0到1300 μ m
精度
± (3% 的读数 + 2um)
分辨率
0um ~ 999um (1um)
校准
一到四个色点校准，零点校准
数据存储/recall
是啊
单位:
嗯，mm和密耳
最小测量尺寸:
直径为6毫米mm(236密耳)
计算机接口:
下载数据，通过USB接口
LCD背光
是啊
统计显示:
意思是，最小值，最大值和标准差
包装和发货信息
Packaging Details
1 * 涂层测厚仪
2 * 件基材
1 * 袋校准膜
1 * USB电缆
1 * 光盘
1 * 用户手册
2 * 件基材
1 * 袋校准膜
1 * USB电缆
1 * 光盘
1 * 用户手册
Port
SHENZHEN, HONGKONG
供应能力
供应能力
2000 件 per Month
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样品价格：
¥469.66/pieces
供应商的产品说明
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